Parasoft C / C ++test:嵌入式单元测试实践(一)

介绍

单元测试已经存在了许多年。 “Test early, test often” 是一个涉及单元测试的口头禅，但不是每一个软件项目都有合适的和先进的单元测试套件。当面对嵌入式系统的时候，这个想法需要改变了，因为对软件质量的要求在持续增长。国际标准，如IEC-61508-3, ISO/DIS-26262或DO-178B/C，需要模块测试以达到要求的功能安全级别。模块级的单元测试有助于达到这一要求。然而，功能安全不仅仅是一个成本回收的问题，还会损失信用。我们需要多花一些时间和精力，以确保我们发布的软件不会造成任何不愉快的意外。

在这篇文章中，我们将介绍如何编写，维护，建立关于ASR的简化模拟模块的单元测试并从中受益。我们将使用Keil评估板MCBSTM32E与Cortex-M3 MCU，带有新的ULINK Pro debug和trace adapter的MDK-ARM，Parasoft C / C ++test。您将看到如何最大化利用IDE/测试框架的整合，并通过测试工具专用主机的通信通道ULINK Pro简化了初始设置。您还将看到对于扩大测试能力而言，这安装工作如何起到重要的作用。

单元测试的基础知识

单元测试是一个众所周知的概念。本质上，它包括单个功能或一类方法，并用一组给定的参数调用它。当执行完毕时，最好的结果是达到了预期要求。这样一个代码的完成成为一个测试用例。检查结果通常是使用断言的形式完成的。例如，假设您有以下功能“foo”：

int foo (int a, int b) {
return b – a -1;
}

一个测试用例可能是这样的：

void test_foo 
{
int Ret = foo(1,2);
assertTrue(ret = 0, “Wrong value returned!”);
}

优点

单元测试有许多好处。当创建了一个单元测试案例，即使开发测试人员的水平有些低也能够执行，甚至包括高级别功能测试的代码部分。这样一来，测试人员可以测试“角落示例（corner cases）”，处理异常情况。

第二个重要的优点，可以促使开发人员编写“可测试”的代码。这样使得代码不过与复杂，容易分解，更好的全面设计。

另一个好处是，单元测试用例套件为您的应用程序建立一个巨大的安全网。无论您是重构代码还是处理旧的代码，这一点都是非常重要的。通常这种情况下，开发人员都害怕引入新的错误。有了这个安全网，您可以放心的修改代码。如果您出现了什么错误，安全网会立即发出警报。这可以提高您的工作效率并写出质量更高的代码。

最后一点同样很重要，单元测试用例可以将错误在开发周期的早期暴露。众所周知，在集成测试阶段修复错误比在系统测试阶段后期的成本要少很多。

上述原因导致测试驱动开发（TDD）的发明。TDD促使开发人员为每个功能创建一个单元测试案例，并实现它。

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